主な特徴
- エミッション測定時の対策ツールとしてご利用できます。
- ノイズの発生要因・分析が手軽に簡単に確認できます。
- 対策前後の比較が簡単に確認できます。
- 電磁界プローブを変えることで製品全体から部品単体まで測定ができます。
- コンパクトで持ち運びに便利です。
- お客さま所有のスペアナや電磁界プローブを用いてシステム構築ができます。（要ご相談）
空間電磁界可視化システム EPS-02Ev3
EMI対策の効率化に
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し*1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。
*1 ： 国立大学法人 金沢大学 特願 2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547による位置検出する方法です。
東海理機株式会社
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